金相顯微鏡 SC-50M

科研級微分干涉DIC金相顯微鏡，2K屏導電粒子壓痕檢測金相顯微鏡

      全新SC-50M 研究級金相顯微鏡多項首創于一身，從外觀到性能都緊跟國際設計風向，致力于拓展工業領域全新格局。SC-50M 秉承不斷探索不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案

多檔分光比觀察頭設計

       全新SC-50M 系列觀察筒，采用寬光束成像系統設計，支持26.5mm 領先的超寬視野觀察帶給您全新的大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致，使操作更加得心應手。

       三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線100% 用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20%用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察；

偏振系統

偏振系統包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導體和PCB 檢測中，可消除雜光，細節更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態?？稍谄裣到y的基礎上加載舜宇全新研發微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統。

諾曼爾斯基微分干涉襯比系統

     全新研發的U-DICR 微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來，如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。

*公司承諾

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