金相顯微鏡 SC-200M
適用于LCD屏粒子爆破檢測 LED芯片尺寸測量檢測 手機粒子爆破 鍍層厚度分析 光纖檢測等

SC-200M 金相顯微鏡
SC-200M正置金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光干擾成像光線。具有強大的圖像處理軟件,從而使成像更清晰、視場襯度更好,成像系統還原性更好。
標準配置放大倍率:50X 100X 200X 500X
觀察方式:透射,反射,簡易偏光
應用功能:拍照,錄像,測量
應用行業:LED芯片尺寸測量,手機粒子爆破,鍍層厚度分析,光纖檢測等
■提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。
■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。
■工作臺、光強與粗微調的低位操作,提高了使用的舒適性。
■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、五金鍍層、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。

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