金相顯微鏡 SC-200M

適用于LCD屏粒子爆破檢測 LED芯片尺寸測量檢測 手機粒子爆破 鍍層厚度分析 光纖檢測等

SC-200M 金相顯微鏡

SC-200M正置金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統，同時在落射照明系統中設計防反射結構，有效防止反射光干擾成像光線。具有強大的圖像處理軟件,從而使成像更清晰、視場襯度更好，成像系統還原性更好。

標準配置放大倍率：50X 100X 200X  500X

觀察方式：透射，反射，簡易偏光

應用功能：拍照，錄像，測量

應用行業：LED芯片尺寸測量，手機粒子爆破，鍍層厚度分析，光纖檢測等

■提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。

■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現鏡體擴展積木化。

■工作臺、光強與粗微調的低位操作，提高了使用的舒適性。

■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、五金鍍層、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。

*公司承諾

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